Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III
1-2 August 2010, San Diego, California, United States
Häftad, Engelska, 2010
1 779 kr
Slutsåld
Produktinformation
- Utgivningsdatum2010-01-01
- Mått152 x 229 x undefined mm
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- FörlagSPIE Press
- ISBN9780819482976