Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Häftad, Tyska, 1998

Av Christian Jäger

1 229 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum1998-11-23
  • Mått148 x 210 x 7 mm
  • Vikt150 g
  • FormatHäftad
  • SpråkTyska
  • Antal sidor108
  • FörlagDiplom.de
  • ISBN9783838611846

Tillhör följande kategorier