Del 73 - Springer International Series in Engineering and Computer Science
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Inbunden, Engelska, 1989
1 409 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum1989-06-30
- Mått156 x 234 x 14 mm
- Vikt418 g
- SpråkEngelska
- SerieSpringer International Series in Engineering and Computer Science
- Antal sidor148
- Upplaga1989
- FörlagKluwer Academic Publishers
- EAN9780792390251