Hoppa till sidans huvudinnehåll

Design for Testability, Debug and Reliability

Next Generation Measures Using Formal Techniques

Häftad, Engelska, 2022

AvSebastian Huhn,Rolf Drechsler

1 209 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Finns i fler format (1)


This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2022-04-20
  • Mått155 x 235 x 11 mm
  • Vikt295 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor164
  • FörlagSpringer Nature Switzerland AG
  • ISBN9783030692117