Avaliacao teorica da reflectancia em filmes finos AL/SiO2

A melhoria das propriedades pticas de um material, como a reflectncia, envolve a complexa busca dos parmetros experimentais ideais no processo de obteno dos mesmos. O uso de software computacional para a simulao destes processos de crescimento de pelcula fina representa um benefcio substancial devido no dependncia de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades fsicas envolvidas. Alm disso, h uma necessidade na indstria automotiva, a Varroc Lighting Systems recebeu a tarefa de melhorar a reflectncia dos faris aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM, que utiliza o mtodo cintico Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema fsico a ser estudado em escala nanomtrica, isto nos permitir analisar a influncia de diferentes magnitudes que podem afetar a reflectncia do material.