Valutazione teorica della riflettanza nei film sottili AL/SiO2

Il miglioramento delle propriet ottiche di un materiale, come la riflettanza, comporta la complessa ricerca dei parametri sperimentali ottimali nel processo di ottenimento. L'uso di software computazionali per la simulazione di questi processi di crescita di film sottili rappresenta un vantaggio sostanziale dovuto alla non dipendenza da un sistema reale, cos come la possibilit di esplorare una gamma pi ampia di quantit fisiche coinvolte. Inoltre, c' una necessit nell'industria automobilistica, Varroc Lighting Systems ha ricevuto il compito di migliorare la riflettanza dei fari alluminati, cos abbiamo effettuato lo sviluppo, utilizzando il software NASCAM, che utilizza il metodo cinetico Monte Carlo per sviluppare un modello del sistema fisico da studiare su scala nanometrica, questo ci permetter di analizzare l'influenza di diverse grandezze che possono influenzare la riflettanza del materiale.