Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
- Nyhet
Inbunden, Engelska, 2025
Av Bryan Gardiner, Pancham Singh, Prashant Upadhyay, Meetu Malhotra, Rahul Sharma
3 489 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum2025-10-02
- Mått178 x 254 x 24 mm
- Vikt953 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor550
- FörlagIGI Global
- ISBN9798337344607