Inbunden, Engelska, 2025
Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
Av Bryan Gardiner, Pancham Singh, Prashant Upadhyay, Meetu Malhotra, Rahul Sharma
4169 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2025-10-02
- Mått: 178 x 254 x 24 mm
- Vikt: 953 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 550
- Förlag: Igi Global Scientific Publishing
- ISBN: 9798337344607
Utforska kategorier
Butikslager
Ej i lager i butik.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.