Active Probe Atomic Force Microscopy

A Practical Guide on Precision Instrumentation

Inbunden, Engelska, 2024

Av Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi

1 479 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Finns i fler format (1)


From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2024-02-07
  • Mått155 x 235 x 21 mm
  • Vikt823 g
  • FormatInbunden
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor366
  • FörlagSpringer International Publishing AG
  • ISBN9783031442322