Data & IT
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Laung-Terng Wang • Cheng-Wen Wu • Xiaoqing Wen
Häftad
899:-
Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-
- Format: Häftad
- ISBN: 9781493300860
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 808
- Utgivningsdatum: 2006-07-21
- Förlag: Morgan Kaufmann Publishers