bokomslag VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Data & IT

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Laung-Terng Wang Cheng-Wen Wu Xiaoqing Wen

Häftad

899:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 808 sidor
  • 2006
  • Författare: Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
  • Format: Häftad
  • ISBN: 9781493300860
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 808
  • Utgivningsdatum: 2006-07-21
  • Förlag: Morgan Kaufmann Publishers