Electronic Design Automation
Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inbunden, 2009
1 259 kr
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Häftad, Engelska, 2006
869 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2006-07-21
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor808
- FörlagMorgan Kaufmann Publishers
- ISBN9781493300860
Hoppa över listan
Mer från samma författare
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
1 039 kr
System-on-Chip Test Architectures
Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Inbunden, 2008
979 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
1 039 kr
System-on-Chip Test Architectures
Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Inbunden, 2008
979 kr
Electronic Design Automation
Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inbunden, 2009
1 259 kr
Passion For Life, A: My Lifetime Companion, Felicia
Cheng-wen Wu, Chwan-wen Liu
Inbunden, 2009
1 669 kr
- Signerad
Del 1
- Nyhet
Del 2
- Nyhet
Del 6