VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Häftad, Engelska, 2006

Av Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

889 kr

Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2006-07-21
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor808
  • FörlagMorgan Kaufmann Publishers
  • ISBN9781493300860