bokomslag Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions
Vetenskap & teknik

Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions

Varun Sharma

Pocket

1169:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 3-8 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 112 sidor
  • 2015
  • Författare: Varun Sharma
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9783656923152
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 112
  • Utgivningsdatum: 2015-04-27
  • Förlag: Grin Verlag