Vetenskap & teknik
Pocket
Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions
Varun Sharma
1169:-
Uppskattad leveranstid 3-8 arbetsdagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-
- Format: Pocket/Paperback
- ISBN: 9783656923152
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 112
- Utgivningsdatum: 2015-04-27
- Förlag: Grin Verlag