Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions

Häftad, Engelska, 2015

Av Varun Sharma

1 109 kr

Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2015-04-27
  • Mått148 x 210 x 7 mm
  • Vikt154 g
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor112
  • Upplaga15001
  • FörlagGrin Verlag
  • EAN9783656923152

Tillhör följande kategorier