Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions
Häftad, Engelska, 2015
Av Varun Sharma
1 109 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-04-27
- Mått148 x 210 x 7 mm
- Vikt154 g
- SpråkEngelska
- Antal sidor112
- Upplaga15001
- FörlagGrin Verlag
- EAN9783656923152