Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry
A User's Guide
Inbunden, Engelska, 1999
2 669 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1999-04-06
- Mått160 x 240 x 20 mm
- Vikt533 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor248
- FörlagJohn Wiley & Sons Inc
- ISBN9780471181729
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
Del 6
- Nyhet
Hjärnans akilleshälar : hur din hjärna lurar dig, och vad du kan göra åt det
Anders Hansen
Inbunden
279 kr329 kr
- Nyhet
Del 1
- Nyhet