Del i serien Materials Characterization and Analysis Collection
Secondary Ion Mass Spectrometry
Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
Häftad, Engelska, 2015
989 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-09-15
- Mått152 x 229 x 16 mm
- Vikt424 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMaterials Characterization and Analysis Collection
- Antal sidor150
- FörlagMomentum Press
- ISBN9781606505885
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
X-Ray Fluorescence Spectrometry and Its Applications to Archaeology
Mary Kate Donais, David B. George
Häftad, 2018
659 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- Nyhet
Del 3
X-Ray Fluorescence Spectrometry and Its Applications to Archaeology
Mary Kate Donais, David B. George
Häftad, 2018
659 kr
- Nyhet
Del 11
- Nyhet