Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Häftad, Engelska, 2011
AvA. Benninghoven,C.A. Jr. Evans,R.A. Powell,R. Shimizu,H.A. Storms,C. a. Jr. Evans,C. A. Jr. Evans,R. A. Powell,H. A. Storms
1 389 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2011-12-13
- Mått152 x 229 x 18 mm
- Vikt466 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieSpringer Series in Chemical Physics
- Antal sidor300
- FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN9783642618734