Del 36
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV
A. Benninghoven, J. Okano, R. Shimizu, H.W. Werner
Häftad
1 399 kr
Del 9 i serien Springer Series in Chemical Physics
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Häftad, Engelska, 2011
1 399 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2011-12-13
- Mått152 x 229 x 18 mm
- Vikt466 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieSpringer Series in Chemical Physics
- Antal sidor300
- FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN9783642618734
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 25
Del 19
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III
A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H.W. Werner
Häftad
1 399 kr
Ecology and Behaviour of North American Black Bears
R.A. Powell, J.W. Zimmerman, D. Erran Seaman, C. Powell
Inbunden
4 589 kr
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
Del 2