Hoppa till sidans huvudinnehåll

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

1 399 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.


Produktinformation

  • Utgivningsdatum2011-12-13
  • Mått152 x 229 x 18 mm
  • Vikt466 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • SerieSpringer Series in Chemical Physics
  • Antal sidor300
  • FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
  • ISBN9783642618734
Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av