Del 45 i serien Springer Series in Optical Sciences
Scanning Electron Microscopy
Physics of Image Formation and Microanalysis
Inbunden, Engelska, 1998
5 029 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (1)
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1998-09-17
- Mått155 x 235 x 35 mm
- Vikt975 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieSpringer Series in Optical Sciences
- Antal sidor529
- Upplaga2
- FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN9783540639763
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Del 113
Photorefractive Materials and Their Applications 1
Peter Günter, Jean Pierre Huignard
Inbunden, 2005
1 439 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 45
Del 1823
Del 71
- Nyhet
Del 6
- Nyhet
Del 3
- Nyhet
Del 7
- Nyhet
Del 4