Rntgenfluoreszenz-Untersuchungen an kleinen Feststoff-Oberflchen und konzentrierten Salzlsungen

In den letzten Jahren wurden die rntgenspektralanal ytischen Verfahren, bei denen die Proben primr angeregt werden so weit fortentwickelt, da nunmehr Durchmesser der angeregten Probenflchen in der Grenordnung
von f. t2 er reichbar sind (Mikrosonde). Eine wesentliche Teilaufgabe dieser Arbeit war es, zu prfen, inwieweit bei Sekundranregung (Rntgenfluoreszenz) eine Verringe rung der Probenoberflche mglich ist und insbesondere,
ob die Probenflchen so stark verkleinert werden knnen, da dadurch Seigerungen nachweisbar werden. Wenn auch die Untersuchung von Flchen in der Grenordnung von f. t2 mittels der Rntgen-Fluoreszenzanalyse kaum zu
erreichen sein drfte, so er scheint doch die Fortentwicklung des Verfahrens in dieser Richtung wnschens wert [1,2,3]. Dafr sprechen etwa der im Vergleich zur Mikrosonde wesentlich geringere apparative Aufwand und vor
allem die sekundre Anregung der Probe, an die weder hin~ichtlich ihres elektrischen Leitvermgens noch in bezug auf das Verhalten im Hochvakuum besondere Forderungen zu stellen sind. In diesem Bericht werden Untersuchungen an
Probenoberflchen bis zu einer unteren 2 Grenze von etwa 0,2 mm beschrieben. Ein weiterer Abschnitt befat sich mit der Konzentrationsabhngigkeit der Fluoreszenz-Intensitten einiger Ionen in wrigen Elektrolytlsungen. Nach
einleitenden Untersuchungen an quimolaren binren Lsungen wurden Elek trolyt-Zusammensetzungen gewhlt, die etwa jenen entsprechen, die beim ano disehen Lsen von Sthlen erhalten werden. An diesen Lsungen wurde die
besonders fr den Analytiker interessante Frage geprft, inwieweit ein linearer Zusammenhang zwischen Fluoreszenz-Intensitt und Konzentration herstellbar ist. 7 II.