Kontaktlose Materialcharakterisierung beliebig geformter Objekte

Diese Arbeit stellt ein Freiraum-Verfahren vor, mit dem die Charakterisierung von dielektrischen Objekten unabhngig von ihrer geometrischen Form, Gre und Orientierung mglich ist. Dielektrische Objekte unregelmiger Form werden mit UWB-Signalen beleuchtet. Anteile der gestreuten Pulse werden mit mehreren Empfangsantennen aufgenommen. Diese enthalten sowohl Informationen ber die geometrischen, als auch ber die dielektrischen Eigenschaften. Um diese Informationen voneinander zu trennen, erfolgt die Anwendung statistischer Verfahren, die bereits aus anderen Bereichen wie der Bildverarbeitung oder der Nahinfrarotspektroskopie bekannt und etabliert sind. Dieser Ansatz wird anhand von Simulationen und Messungen berprft.