High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Ullrich Pietsch • Vaclav Holy
Tillfälligt slut online – klicka på "Bevaka" för att få ett mejl så fort varan går att köpa igen.
- Format: Perfect
- ISBN: 9781475740516
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 428
- Utgivningsdatum: 2012-12-22
- Förlag: Springer