bokomslag High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures

High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures

Ullrich Pietsch Vaclav Holy

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Tillfälligt slut online – klicka på "Bevaka" för att få ett mejl så fort varan går att köpa igen.

  • 428 sidor
  • 2012
  • Författare: Ullrich Pietsch, Vaclav Holy
  • Format: Perfect
  • ISBN: 9781475740516
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 428
  • Utgivningsdatum: 2012-12-22
  • Förlag: Springer