bokomslag Esquemas de Diagnostico de Faltas Para Sistemas de Eventos Discretos
Vetenskap & teknik

Esquemas de Diagnostico de Faltas Para Sistemas de Eventos Discretos

Elvia Ruiz Beltr N Antonio Ram Rez Trevi O Luis Ernesto L Pez Mellado

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  • 176 sidor
  • 2012
La diagnosticabilidad de un sistema es la posibilidad de detectar y localizar el estado de falta en el que se encuentra el sistema a partir del conocimiento de sus entradas, salidas y la estructura de su modelo en un tiempo finito. En este trabajo se extiende esa definicin al mbito de los Sistemas de Eventos Discretos (SED) modelados con Redes de Petri Interpretadas(RPI). Las RPI son usadas para modelar tanto el comportamiento normal y de falta de un sistema. Basndose en tal modelo se propone la nocin de diagnosticabilidad entrada-salida y se propone un algoritmo polinomial para caracterizar RPI diagnosticables. Para la deteccin y localizacin de fallas en lnea en los SED, se proponen dos esquemas de diagnstico que utilizan un modelo de referencia expresado en RPI. Uno de los esquemas incluye un modelo diagnosticador mnimo; se propone un mtodo eficiente para obtener tal diagnosticador el cual est formado por un lugar y tantas transiciones como haya en el modelo del sistema; el marcado de ese nico lugar es suficiente para detectar y localizar la ocurrencia de las fallas en el SED. Se propone una extensin a este sistema con modelos diagnosticadores con mas de un lugar.
  • Författare: Elvia Ruiz Beltr N, Antonio Ram Rez Trevi O, Luis Ernesto L Pez Mellado
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9783659028205
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 176
  • Utgivningsdatum: 2012-07-19
  • Förlag: Eae Editorial Academia Espanola