Hoppa till sidans huvudinnehåll

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Häftad, Engelska, 2013

AvCher Ming Tan,Feifei He

689 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Produktinformation

Tillhör följande kategorier

Hoppa över listan

Mer från samma författare

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Cher Ming Tan, Preetpal Singh, Taiwan) Tan, Cher Ming (Center for Reliability Sciences and Technologies, Chang Gung University, Taiwan; Center for Reliability Engineering, Ming Chi University of Technology, Taiwan) Singh, Preetpal (Center for Reliability Engineering, Ming Chi University of Technology

Häftad

2 379 kr

Hoppa över listan

Mer från samma serie

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging

Cher Ming Tan, Preetpal Singh, Taiwan) Tan, Cher Ming (Center for Reliability Sciences and Technologies, Chang Gung University, Taiwan; Center for Reliability Engineering, Ming Chi University of Technology, Taiwan) Singh, Preetpal (Center for Reliability Engineering, Ming Chi University of Technology

Häftad

2 379 kr