Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Inbunden, Engelska, 1993

Av Eugene R. Hnatek

1 409 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum1993-08-31
  • Mått156 x 234 x 16 mm
  • Vikt462 g
  • FormatInbunden
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor180
  • Upplaga1993
  • FörlagKluwer Academic Publishers Group
  • ISBN9780442006433