Hoppa till sidans huvudinnehåll

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Inbunden, Engelska, 1993

AvEugene R. Hnatek

1 389 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.


Produktinformation

  • Utgivningsdatum1993-08-31
  • Mått156 x 234 x 16 mm
  • Vikt462 g
  • FormatInbunden
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor180
  • Upplaga1993
  • FörlagKluwer Academic Publishers Group
  • ISBN9780442006433
Hoppa över listan

Mer från samma författare

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

  • Nyhet

Systrarna

Jonas Hassen Khemiri

Pocket

79 kr129 kr

  • Nyhet

Olgas bok

Katarina Wennstam

Inbunden

269 kr299 kr