Advances in X-Ray Analysis

Volume 10

Häftad, Engelska, 2012

Av John B. Newkirk, Gavin R. Mallett

709 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Finns i fler format (1)


The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses­ sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2012-06-12
  • Mått178 x 254 x 31 mm
  • Vikt1 061 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor558
  • FörlagSpringer-Verlag New York Inc.
  • ISBN9781468478372

Tillhör följande kategorier