Häftad, Engelska, 2012
Advances in X-Ray Analysis
Volume 10
Av John B. Newkirk, Gavin R. Mallett
709 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Beskrivning
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2012-06-12
- Mått: 178 x 254 x 31 mm
- Vikt: 1 061 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 558
- Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
- ISBN: 9781468478372
Utforska kategorier
Butikslager
Ej i lager i butik.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.