Inbunden, Engelska, 2000
Del 2 i serien Advances in Materials Research
Advances in Scanning Probe Microscopy
1409 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Beskrivning
This book covers several of the most important topics of current interest at the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2000-03-27
- Mått: 155 x 235 x 24 mm
- Vikt: 653 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Serie: Advances in Materials Research
- Antal sidor: 343
- Upplaga: 2000
- Förlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN: 9783540667186
Butikslager
Ej i lager i butik.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.