bokomslag Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

Cherepin

Inbunden

2379:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 138 sidor
  • 1987
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces
  • Författare: Cherepin
  • Format: Inbunden
  • ISBN: 9789067640787
  • Antal sidor: 138
  • Utgivningsdatum: 1987-12-01
  • Förlag: Brill