bokomslag Radiation-Induced Soft Error: A Chip-Level Modeling
Vetenskap & teknik

Radiation-Induced Soft Error: A Chip-Level Modeling

Norbert Seifert

Häftad

1609:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 3-8 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 136 sidor
  • 2010
  • Författare: Norbert Seifert
  • Format: Häftad
  • ISBN: 9781601983947
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 136
  • Utgivningsdatum: 2010-12-16
  • Förlag: Now Publishers