Pelna diagnostyka sekcji plazmy indukcyjnej pędnika jonowego

Indukcyjna niskocinieniowa plazma ksenonowa zostaa wytworzona w sekcji wejciowej pdnika jonowego. Jej pena diagnostyka obejmowaa pomiary waciwoci integralnych (opatentowane) oraz wyznaczenie lokalnych parametrw plazmy. Dokadna diagnostyka lokalna ujawnia rozkady parametrw plazmy przy uyciu cylindrycznych sond Langmuira. Ich wyprowadzenia byy chronione przez konwencjonalne, goe osony. Pniejsza analiza wykazaa, e znieksztacay one plazm ksenonow obniajc wszystkie jej parametry. Wwczas diagnostyka sond zostaa specjalnie zaaranowana za pomoc promieniowo ruchomej sondy prostej-1 oraz dodatkowej sondy w ksztacie litery L-2. Obie pracoway w jednej specjalnej pozycji: osona-1 bya nieobecna, a osona-2 bya niezerowa, ujawniajc bdy pomiarowe, ktre pomogy skorygowa dane z sondy-1. W rezultacie zaproponowano trzy nowe zastosowania sond: a) eliminacja wpywu nieosonitej osony ochronnej sondy na wyniki pomiarw; b) pomiary gruboci paszcza sondy i redniej masy jonw przy uyciu sond cylindrycznych w plazmie Maxwelliana; c) ocena rozkadw gstoci prdu jonowego do elektrody ekstrakcyjnej pdnika jonowego ustawionego za pomoc symulatora sondy paskiej (Pat. Applic-n).