Vetenskap & teknik
Pocket
New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses
Alexander Hirler
729:-
Uppskattad leveranstid 7-12 arbetsdagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-
- Format: Pocket/Paperback
- ISBN: 9783736975200
- Språk: Engelska
- Utgivningsdatum: 2021-11-15
- Förlag: Cuvillier