L'rosion de la cathode dans les dcharges luminescentes

La pulvrisation de la couche d'oxyde de magnsium (MgO) est un facteur limitant la dure de vie des dispositifs dcharge luminescente. Les travaux mens au cours de cette thse ont pour objectif d'augmenter la dure de vie et d'amliorer l'efficacit lumineuse des dispositifs dcharge luminescente et plus particulirement les panneaux plasma (PAP). Nous visons travers cette tude, simuler l'rosion et les autres processus physiques qui se produisent dans la couche protectrice lors de l'interaction plasma-surface. Pour complter le modle Monte Carlo SRIM (Stopping and Range of Ions in Matter), les nergies de liaison desurface sont dduites d'aprs une comparaison entre nos rsultats obtenus et ceux de l'exprience. Nous avons ensuite utilis ces nergies comme paramtres d'entre pour raliser des tudes plus raffines. Afin de diminuer le taux de pulvrisation de la couche mince de MgO en fonction de l'nergie d'impact et de l'angle d'incidence, nous nous sommes intresss l'utilisation de diffrentes stratgies axes sur l'optimisation de la couche protectrice.