Indexado de Patrones de Difraccion

En este trabajo se presenta el modelo diseado para el anlisis de imgenes que contienen patrones de difraccin, as como el software desarrollado para efectuar mediciones de ngulos y distancias entre distintos puntos caractersticos (seales) comprendidos en los patrones bajo estudio por parte de los investigadores del Centro de Investigacin en Materiales Avanzados (CIMAV). La razn principal para elaborar este sistema es que los investigadores deben realizar el proceso de anlisis e indexacin de patrones de difraccin de forma manual, tarea que se torna tediosa y propensa a errores humanos. Es por ello que se dise la herramienta para automatizar y asistir en la indexacin de patrones en imgenes, facilitando el proceso de deteccin de seales y logrando con ello una medicin ms acertada entre los elementos del patrn de difraccin analizado.