Aplicaciones de interferometra de corrimiento de fase simultneo

El estudio que se presenta en este libro est basado en tcnicas interferometricas de corrimiento de fase para el clculo de la fase ptica en objetos transparentes, convencionalmente el corrimiento de fase por etapas en interferometria se realiza usando elementos mecnicos u optoelectronicos anclados al sistema para generar corrimientos por etapas y con ello poder calcular la fase ptica; considerando ello se han analizado las ventajas de usar un interfermetro de Michelson acoplado a un sistema 4-f con rejilla de fase y modulado por polarizacin para estudio de objetos de fase delgada estticos y dinmicos, esto ltimo se logra obteniendo los corrimientos de fase simultneos para procesar la fase ptica, en una sola captura de la cmara. Con el sistema desarrollado se pueden obtener 9 rplicas con intensidades comparables en una sola toma de la cmara, lo que permite extraer fase de distribuciones de fase estticas y variables en el tiempo. Como este sistema se basa en modulacin de polarizacin, est limitado a muestras no birrefringentes o que no cambien el estado de polarizacin del sistema. Proyecto CONACYT A1-S-20925.